一、5G移動(dòng)通信設(shè)備高溫試驗(yàn)室概述：
1.溫度控制準(zhǔn)確，精度高。由于采用了安德信設(shè)計(jì)的風(fēng)道系統(tǒng)設(shè)計(jì)及電控系統(tǒng)，能保持整個(gè)房間溫度高度均勻性，大大高于同類產(chǎn)品。
2.房間設(shè)定溫度范圍廣，連續(xù)可調(diào)。在常溫（常溫+10℃－130℃）范圍內(nèi)可任意設(shè)定。
3.系統(tǒng)保護(hù)功能齊全，能確保安全長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
4.試驗(yàn)室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有先進(jìn)水平，能夠適應(yīng)長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。
5.設(shè)備主要部件選用國(guó)內(nèi)外品牌廠家的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和性能。
6． 外形美觀，施工方便，施工周期短。
7．大型老化房用途：廣泛應(yīng)用于電源、電子、電腦、通訊、制藥等領(lǐng)域產(chǎn)品的老化試驗(yàn)。

二、5G移動(dòng)通信設(shè)備高溫試驗(yàn)室結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：
1.高溫老化房為方便試品進(jìn)出工作室，采用落地式箱體結(jié)構(gòu)。落地式庫(kù)板拼裝結(jié)構(gòu)，可以減少設(shè)備后期的搬遷，擴(kuò)張導(dǎo)致的浪費(fèi)。高溫老化房采用六面保溫.
2.高溫老化房組成：加熱、風(fēng)道循環(huán)、照明、中央控制柜等部分組成。
3.采用高性能的雙面彩鋼凈化板，耐火級(jí)別高，安全環(huán)保，高效保溫，大大降低設(shè)備的能損，同時(shí)達(dá)到節(jié)能的功效。保溫厚度100mm。
4.保溫庫(kù)板采用0.5mm彩鋼板、鋁合金加固，確保保溫庫(kù)板在不變形、不燃燒。
5.控制系統(tǒng)中關(guān)鍵元器件均采用進(jìn)口產(chǎn)品，相比國(guó)產(chǎn)儀表而言，更保證性能穩(wěn)定可靠。
6.安全的輸出保護(hù)電器，保護(hù)試件和試驗(yàn)系統(tǒng)的安全，完善的保護(hù)措施，系統(tǒng)安全可靠。
7.人性化的軟件操作界面，易學(xué)易用，自動(dòng)或手動(dòng)產(chǎn)生試驗(yàn)報(bào)表。
8.房體大門(mén)：一扇。采用雙開(kāi)門(mén)結(jié)構(gòu)，充分考慮樣品車(chē)進(jìn)出方便，防反鎖，確保從里面能順利開(kāi)啟。試驗(yàn)箱的大門(mén)密封采用硅橡膠條，耐高溫，抗老化，密封性能良好。
9.房體觀察窗：為便于觀察箱內(nèi)試品的情況，觀察窗材料均為多層鋼化玻璃構(gòu)成，與業(yè)界傳統(tǒng)的普通玻璃相比，多層鋼化玻璃不僅堅(jiān)實(shí)安全，隨時(shí)保持清晰的觀測(cè)箱內(nèi)的狀況。
10.照明裝置：老化房?jī)?nèi)設(shè)置有4盞40W／220V防潮、防爆照明燈，防護(hù)等級(jí)滿足IP65，防爆等級(jí)符合GB3836-2000《爆炸性氣體環(huán)境用電氣設(shè)備》標(biāo)準(zhǔn)。可手動(dòng)直接開(kāi)關(guān)控制，避開(kāi)箱體中部樣品區(qū)。

三、技術(shù)參數(shù)：
1.溫度范圍：常溫+10℃－130℃；（無(wú)負(fù)載情況下實(shí)測(cè)）
2.房?jī)?nèi)尺寸：7000*4000*2200（L*W*H）mm
3.溫度均勻度：±5℃以內(nèi)（無(wú)負(fù)載情況下實(shí)測(cè)）
4.溫度波動(dòng)度：±0.5℃
5.升溫時(shí)間：常溫至130℃小于90分鐘
6.運(yùn)行方式：溫度可調(diào)，恒定運(yùn)行
7.安裝電源：AC~380V；50Hz
8.噪音大小：≦72分貝
9.設(shè)備使用功率:約80KVA（不含產(chǎn)品負(fù)載供電）

四、參照標(biāo)準(zhǔn)及驗(yàn)收方式：
本設(shè)備參照國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)規(guī)范精工制造，有效模擬氣候環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的適應(yīng)性試驗(yàn)。具體參照標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)如下。
1.  GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》