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LW-手機側鍵打擊壽命試驗機

一、LW-手機側鍵打擊壽命試驗機產品說明：

•         荷重打擊壽命試驗機可對手機、MP3、電腦、電子詞典、搖控器、橡膠按鍵等做荷重打擊壽命測試，荷重打擊壽命試驗機適用于檢測按壓開關、輕觸開關、薄膜開關、鍋仔片等各類按鍵開關進行打擊壽命試驗。

•        荷重打擊壽命試驗機適用于按鍵開關、電腦鍵盤、導電橡膠按鍵、金屬彈片按鍵（俗稱鍋仔）或同類型按鍵的打擊壽命老化試驗，按鍵開關打擊壽命試驗機采用先進的編程器控制按鍵壽命試驗全過程。

•        荷重打擊壽命試驗機同時適用于硅橡膠類按鍵作疲勞測試；按鍵開關打擊壽命試驗具有速度可調，次數任意設定及同時測試數個產品（每個產品均可多點測試），到達次數或掉電停機后保持數據。另按鍵開關打擊壽命試驗機可對每個按鍵設定不同壓力及不同高度。 按鍵開關打擊壽命試驗機同時采用每個打擊頭分開控制，設計更為人性化,能滿足客戶不同的測試需求。

二、標準本體參數：

三、標準配置：

1. 按鍵壽命試驗機本體壹臺；

2. 直徑2、4、6、8、10mm打擊測頭各6個；

3. 內六角扳手壹套；

4. 電源線1條、電子秤(2000g)1臺；

5. 按鍵開關打擊壽命試驗機說明書、保修卡、合格證各一份。