貴金屬測試儀 型號：MHY-17417
產品詳情：
X-3680 貴金屬檢測儀
產品型號：MHY-17417
產品詳情：
MHY-17417是一種體現X射線熒光分析技術新進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強，分辨率高，適用于各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。
強勢功能
1. 基本參數法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統。
3.樣品室高清成像定位系統，方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內部雙向循環冷卻恒溫系統相結合，維持內部工作環境穩定。
5. 內部動力學風道設計，快速排出多余熱量。
6.雙峰位快速自動校準。
7.雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升級。
8.儀器工作方法任意開發。
9. 定量分析：包括經驗系數法，理論a系數法和基本參數法。
10.定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。
11.測試報表根據客戶要求獨立設計。
12.溫度系數：溫度變化1度，電壓變化不超過0.01%
13.穩定性：經過半個小時預熱后，每8小時變化不超過0.05%
14.準直器：使用特殊的濾波片自動更換，提高高能區的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發的多功能數字集成新型放大器，提高降噪比。
