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日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ

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日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ
從“觀測對象”升級到“也可以測量的SEM”
使用電子束的表面粗糙度測量設(shè)備，可以改裝到您的SEM。
可以進行非接觸，非破壞性的高分辨率測量
采用高性能反射電子探測器

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日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ

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日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ

 

 

特征

  • 從“觀測對象”升級到“也可以測量的SEM”
  • 使用電子束的表面粗糙度測量設(shè)備，可以改裝到您的SEM。
  • 可以進行非接觸，非破壞性的高分辨率測量
  • 采用高性能反射電子探測器
 

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