日本電子掃描電鏡JSM-IT300
高質量觀察 細微結構的進一步觀察
? 全新電子光學系統的高質量成像
? 新差動排氣系統擴大了低真空壓力范圍
高通量 的快速處理能力支持新一代操作環境
? 操作直觀的觸控屏界面
? 高通量樣品室
? EDS 集成化，一觸式分析。
高擴展性 多接口擴展了分析范圍
? 多用途樣品室
? 豐富的選配件
EDS、雙 EDS 探測器、WDS、EBSD 等多個預備接口。
高質量觀察 細微結構的進一步觀察
? 全新電子光學系統的高質量成像
? 新差動排氣系統擴大了低真空壓力范圍
高通量 的快速處理能力支持新一代操作環境
? 操作直觀的觸控屏界面
? 高通量樣品室
? EDS 集成化，一觸式分析。
高擴展性 多接口擴展了分析范圍
? 多用途樣品室
? 豐富的選配件
EDS、雙 EDS 探測器、WDS、EBSD 等多個預備接口。
JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，全新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。
通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉。可以用更高的分辨率觀察微觀結構。
通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個碳化鎢顆粒的通道襯度。
幀累積法能抑 制荷電效應，對非常容易充電的樣品可以輕松地進行觀察。
新的掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，高倍率下的圖像質量也得到了顯著的提高。
新的差動抽氣系統顯著提高了低真空模式下的圖像質量，此外，低真空模式的
壓力可高達 650Pa，進一步擴大了應用范圍。
含有大量水分的軟樣品可能會由于樣品室內的壓力而無法保持原有的結構，這樣的
樣品不進行特殊處理就無法觀察。但低真空壓力范圍擴展到 650 Pa 就可以進行觀
察，即使沒有特殊處理對樣品的損傷也很小。
即使是低真空模式下，通過低真空二次電子像也能清晰地觀察有 機材料的表面細節。
JEOL 是集開發、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中，輕觸屏幕即可進行分析。
在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標就可以執行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體 化集成，提高了通量和易用性。
在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執行基本的分析操作。
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