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DM4P

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DM4P正置級專業偏光顯微鏡LeicaDM4P:服務唾手可得如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作,可以使用LeicaDM4P半自動正置偏光顯微鏡

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DM4P

正置級專業偏光顯微鏡




Leica DM4 P:服務唾手可得

如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作,可以使用 Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡。

通過編碼組件存儲和調用信息


  • 想要更換物鏡時,可通過照明強度控制和對比度管理器調用照明強度和光闌的設置。


  • 得益于編碼物鏡轉盤的存在,攝取的圖像始終得到校準。


  • 25-mm 大視場為您帶來優質的概覽圖像。


  • 為您展現所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖,而不是細節圖 — 比如流動結構、變形結構或冷卻過程造成的帶狀排列結構。


  • 照明和對比度管理,獲得可再現結果


  • 編碼錐光法,采用 1.6 倍放大倍率調節器


  • LED 照明狀態顯示


  • 360° 旋轉臺,帶或不帶 45° 卡位裝置


  • 無應力光學部件


  • 偏振設備范圍廣泛


  • 固定或可變補償器,符合 DIN 58879

Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡



全編碼自動識別物鏡轉盤


物鏡轉盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率,獲取豐富的樣品信息。

· 

使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構

· 

· 

如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究,可切換為 63 倍放大倍率

· 

· 

切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應

· 

 

而且物鏡轉盤也是編碼的,可為您提供智能支持。

六位物鏡轉盤與360°載物臺

錐光觀察——專業偏光應用


· 強散色 Brookit (TiO2) 錐光圖
方解石厚片的單軸干涉圖,垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖,對角位置。光軸位置清晰可辨

· 研究光學屬性

· 錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數量、光軸角度和光學特性。

· Leica DM4 P 非常適用于錐光法:

· 具有高放大倍率和高數值孔徑的無應力物鏡是該項應用的條件。

· 使用特殊 63 倍徠卡物鏡,能滿足偏振等級 5 的要求,從而獲取優質結果。











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