• 兼容Windows 10/8/7/Vista/XP/NT/2000/ME/9x全系列操作系統

• 兼容Intel/AMD全系列計算機

• 兼容AFM(接觸模式/輕敲模式振幅和相位移成像/抬起模式)、LFM、 C-AFM、STM、MFM、EFM等

• AFM力/距離曲線(Force Curve)、振幅/距離曲線(Amplitude Curve) 懸臂共振特性曲線(Q Curve)/相位曲線(Phase Curve)測量分析

• STM I/V曲線、I/Z曲線測量分析

• STM表面電流密度測量分析

• 支持雙向掃描(Trace-Retrace)，往返掃描

• 實時在線三維圖像顯示

• 系統狀態、儀器類型、掃描器和探針架參數智能識別和控制

• 全部工作環境參數同步保存和載入

• 掃描圖像亮度、對比度調整后，自動整體刷新

• 多種樣品傾斜度實時校正功能

• 軟件控制樣品向方向移動一步或多步，精度達每步100nm

• 方便的鼠標控制掃描區域平移、剪切功能

• 具有數據導出功能，用戶可取得原始數據

• 支持雙顯示器操作界面，方便進行參數調整及圖像觀測

• 支持圖形刻蝕和矢量掃描模式的納米加工技術

• 具備超媒體用戶界面的納米操縱接口

用戶可以通過TCP/IP網絡，在本地計算機或遠程計算機上運行本軟件，實現對儀器的實時控制。