JEM-3100F 場發射透射電子顯微鏡是這一級別電鏡中的一款,分辨率可達0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領域效果突出.控制系統使用藝術級的數字技術, 充分強化了操作的簡易性。

JEM-3100F 透射電子顯微鏡

JEM-3100F 場發射透射電子顯微鏡是這一級別電鏡中的一款,分辨率可達0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領域效果突出.控制系統使用藝術級的數字技術, 充分強化了操作的簡易性。

擁有300KV加速電壓,JEM-3100F不僅很適合過程測試,還具有高速檢查經聚焦離子束處理過的比較厚的半導體器件截面的能力。

JEM-3100F是可廣泛用于從研究開發到制造的*的工具;包括生物,基本材料研究和開發, 實效分析和質量控制等。

JEM-3100F 場發射透射電子顯微鏡特點

· 分辨率達到0.17nm,是這一級別電鏡中的。

· 理想的分析用高亮度,高穩定性的肖特基電子槍。

· 的5軸馬達驅動測角器加強樣品臺精確度。

· 操作簡易的全數字化控制。

· 加載JEOL生產的掃描透射（STEM）系統和能譜儀（EDS）可升級為支持微區元素分析。