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德國費(fèi)希爾X射線熒光鍍層測(cè)厚儀XAN系列

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德國費(fèi)希爾X射線熒光鍍層測(cè)厚儀XAN系列XAN系列XAN®系列儀器特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量

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德國費(fèi)希爾X射線熒光鍍層測(cè)厚儀XAN系列

XAN 系列

XAN® 系列儀器特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用且性價(jià)比高,因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

特性:

  • 操作簡(jiǎn)單且性價(jià)比高。

  • 自下而上進(jìn)行測(cè)量,從而快速、簡(jiǎn)便地定位樣品

  • 廣泛適用:為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號(hào)

  • 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析

  • 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型,可對(duì)極薄鍍層及微量成分進(jìn)行*測(cè)量

應(yīng)用:

鍍層厚度測(cè)量

  • 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層

  • 時(shí)尚首飾:對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析

  • 抗磨損鍍層,如:對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量

  • 測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層(凸點(diǎn)下金屬化層,UBM) 

材料分析

  • 測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度

  • 經(jīng)驗(yàn)豐富實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析

  • 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬)

  • 功能性鍍層的成分,如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量



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