MPS50系列為兩線制W波段調頻連續波雷達物位儀表適用于料倉內固體介質的連續物位測量，量程100mMPS50系列雷達物位計是基于調頻連續波技術的測量系統

MPS50系列為兩線制W波段調頻連續波雷達物位儀表

適用于料倉內固體介質的連續物位測量，量程100m

MPS50系列雷達物位計是基于調頻連續波技術的測量系統。雷達物位計通過透鏡天線發射連續的微波信號，該發射信號的頻率由鋸齒波進行線性調制。連續發射的微波信號遇到被測介質表面時，由于介電常數發生突變，微波信號的部分能量被連續的反射回來，并被透鏡天線系統所接收。

接收信號的頻率與發射信號的頻率總是存在差值的，而該差值與雷達天線到被測介質表面的距離成正比，越大的頻率差值代表著越遠的物料距離。由式(1)即可計算出被測物質到儀表法蘭的距離。

D=1/2 · c · (ΔF/R) (1)

其中D為測量參考面到被測介質的距離，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度，ΔF為接收信號與發射信號的頻率差，R為發射信號頻率隨時間的變化率。

然后根據用戶設定的空料位位置，由式(2)即可計算出物料高度。

L=E-D (2)

其中E為測量參考面到用戶設定的空料位位置，D為測量參考面到被測介質的距離，L為物料高度。