天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀 zui大的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測(cè)器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過(guò)了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè)，并通過(guò)中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)組織的科技成果鑒定，技術(shù)達(dá)到*水平。

　　X熒光光譜儀屬于*的分析檢測(cè)儀器，隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式，轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算（計(jì)算機(jī)）一體化、自動(dòng)化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺(tái)式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ)，結(jié)合國(guó)外相關(guān)的技術(shù)發(fā)展成果，研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光光譜儀。
　　
　　EDX 3600K X熒光光譜儀zui大的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測(cè)器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過(guò)了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè)，并通過(guò)中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)組織的科技成果鑒定，技術(shù)達(dá)到*水平。
　　
　　應(yīng)用領(lǐng)域：
　　
　　專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設(shè)備，主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
　　
　　同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測(cè)、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。
　　
　　性能優(yōu)勢(shì)：
　　
　　1.超低能量分辨率，輕元素檢測(cè)效果更佳
　　
　　使用大面積鈹窗電致冷SDD探測(cè)器，探測(cè)器分辨率zui低達(dá)到139eV，各項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測(cè)器具有良好的能量線
　　
　　性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有良好的分析精度。
　　
　　2. 測(cè)試精度更高，檢出限更低
　　
　?、賹I(yè)化的樣品腔設(shè)計(jì)，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能有效的測(cè)定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測(cè)試精度。
　　
　　②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計(jì)，保證測(cè)試時(shí)達(dá)到10Pa以下，使設(shè)備的測(cè)試范圍可從F元素起測(cè)試，大大地提高測(cè)試范圍、輕元素檢出限和精度。
　　
　　3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結(jié)果
　　
　　采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，其zui大線性計(jì)數(shù)率可達(dá)100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果，
　　
　　設(shè)計(jì)成高計(jì)數(shù)率，大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。
　　
　　4. 一鍵式智能化操作
　　
　　專業(yè)軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作，使操作簡(jiǎn)易，對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。
　　
　　5. 強(qiáng)大的自動(dòng)化功能
　　
　　①自動(dòng)化程度高，具有自動(dòng)開(kāi)蓋、自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。
　　
　　②采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。
　　
　　6. 強(qiáng)度校正法
　　
　　具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
　　
　　7. 完善的光路系統(tǒng)
　　
　　自主研發(fā)的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。
　　
　　8. 三重安全防護(hù)功能
　　
　　三重安全防護(hù)功能，自動(dòng)感應(yīng)，沒(méi)有樣品時(shí)儀器不工作，無(wú)射線泄漏；加厚防護(hù)測(cè)試壁；配送測(cè)試防護(hù)安全罩。
　　
　　9. 安全警示系統(tǒng)
　　
　　警告指示系統(tǒng)，通電時(shí)綠色指示燈亮，測(cè)試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。
　　
　　儀器配置：
　　
　　鈹窗電制冷SDD探測(cè)器
　　
　　自旋式樣品腔
　　
　　高效超薄窗X光管
　　
　　信噪比增強(qiáng)器SNE
　　
　　超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)
　　
　　可自動(dòng)開(kāi)啟的測(cè)試蓋
　　
　　自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
　　
　　真空腔體
　　
　　自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
　　
　　90mm×70mm的液晶屏
　　
　　的數(shù)字多道技術(shù)
　　
　　多變量非線性回歸程序
　　
　　相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
　　
　　技術(shù)參數(shù)：
　　
　　型號(hào)：EDX3600K
　　
　　X射線源：50KV、1mA
　　
　　樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
　　
　　分析方法：能量色散X熒光分析方法
　　
　　測(cè)量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測(cè)量
　　
　　檢測(cè)元素：同時(shí)分析元素達(dá)三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
　　
　　含量范圍：ppm～99.99%
　　
　　檢測(cè)時(shí)間：10秒以上
　　
　　檢測(cè)對(duì)象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
　　
　　探測(cè)器及分辨率：超大超薄的SDD探測(cè)器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測(cè)器zui低至125eV
　　
　　激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
　　
　　攝像頭：高清攝像頭
　　
　　測(cè)井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
　　
　　準(zhǔn)直器和濾光片：四組準(zhǔn)直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動(dòng)切換
　　
　　自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置
　　
　　檢出限：對(duì)樣品中的大多數(shù)元素來(lái)說(shuō)，zui低檢出限達(dá)5～500ppm
　　
　　真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
　　
　　數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計(jì)數(shù)率
　　
　　測(cè)試臺(tái)：360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式
　　
　　保護(hù)系統(tǒng)：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開(kāi)時(shí)測(cè)試已完成
　　
　　樣品放置：*的樣品杯設(shè)計(jì)，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)
　　
　　數(shù)字多道技術(shù)：計(jì)數(shù)率>50kcps，有效計(jì)數(shù)率高至500kcps
　　
　　外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
　　
　　操作環(huán)境濕度：≤90%
　　
　　操作環(huán)境溫度：15℃～30℃
　　
　　軟件優(yōu)勢(shì)：
　　
　　采用公司的能譜EDXRF軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作，操作簡(jiǎn)易，對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。
　　
　　具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
　　
　　全新的軟件界面和內(nèi)核，采用FP和EC軟件組合的方法，應(yīng)用面更加廣泛。