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升級至 Proceq 探傷儀 100 TOFD 可啟用 TOFD 應用至性能。雙通道設置，只需一次便可檢測厚部件。高頻率探頭可精確的獲取缺陷大小。

Proceq 探傷儀 100 具有超大顯示屏，可顯示兩個自帶的頻道 A-scan 值。 借助向導程序分析文件，使用簡單而有效率。3D Scan 設計有助于創建檢...

博勢Proceq便攜式探地雷達GP8000概述寬頻通常使用0.9至3.5Ghz范圍的多個獨立天線解決的所有應用，現在只需一臺設備即可覆蓋

氧/氮/氫分析儀 ELEMENTRAC ONH?p 2是一個功能強大的元素分析儀，用于測量無機材料如鋼、鐵、銅或陶瓷中的氧、氮和氫濃度。高靈敏度的非色散紅外檢測...

埃爾特ELTRA 氧/氮分析儀ELEMENTRACON-P2封閉的氣體系統降低載氣的消耗并且提高檢測靈敏度對于針狀、粉末以及顆粒狀材料都能很好的應用經濟型的氬氣...

ELTRA 氧/氫分析儀 ELEMENTRAC OH?p 2 封閉的氣體系統降低載氣的消耗并且提高檢測靈敏度對于針狀、粉末以及顆粒狀材料都能很好的應用經濟型的氬...

埃爾特ELTRA 碳/硫分析儀ELEMENTRACCS-I控制感應性能對低熔點金屬的提供了準確的分析加熱集塵器可以改善硫的檢測硅鉑催化劑確保碳含量的準確測量對于...

具有對于頂空分析的的功能，在Gaspace Advance提供自動校準，診斷和控制，確保儀器的準確性為遵守HACCP關鍵。該二氧化碳（CO2）和氧氣（O2）頂空...

適合柔軟至中等硬度、脆性和纖維材料以及溫度敏感型樣品的高速、有效粉碎處理。

適用于對如分析篩、精微篩和其他敏感部件的無危險溫和清洗。也適用于懸浮液中的顆粒粒徑分析的分散。填充容量：28升

Fritsch公司的A22 NanoTec大量程激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.01µm ，在同類...

微曠科技的WK-XSin 1000 熱壓燒結臺可在高真空條件下，對粉末試樣施加預定壓力，并將其加熱至預定溫度和時間后，表征此狀態下試樣顆粒三維鏈接與孔隙大小。非...

雙源雙探國產CTXTremeVista 3000是一款強大的雙源雙探系統，根據不同的測試需求可以選用不同功率的射線源，幾乎所有的前沿CT技術都可以在其系統內集成...

特點和優勢雙襯度成像技術雙襯度成像技術解決了成分吸收系數相近導致成像不清的痛點，該技術在吸收襯度成像方式之外，還可以利用穿過物體的X射線束相位改變的信息產生圖像...

高精度科研級CT特點與優勢雙襯度成像技術雙襯度成像技術解決了成分吸收系數相近導致成像不清的痛點，該技術在吸收襯度成像方式之外，還可以利用穿過物體的X射線束相位改...

桌面原位CT XCoreVista 1000 4D是新一代桌面型原位X射線CT，對輕質金屬、生命科學、考古地質等被檢樣品較小的領域而言，您只需準備一張桌子、一處...

XPloreVista 3000 4D 配備了適用于特殊服務環境的原位臺，采用前沿納焦點射線源，全面升級機械結構， 使其能夠以納米級的分辨率精確表征樣品結構，滿...

萊馳RETSCH 行星式球磨儀 PM 300適合所有行業，可滿足質量控制過程中對純度、速度、出樣細度和重現性的最高要求。由于其高達64倍重力加速度的巨大能量輸入...