新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項zui重要參數的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。
這些系統中內置了新技術，提供無比的靈敏性和多功能性。

粒度 - NIBS 技術可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。

Zeta 電位 - M3-PALS 技術能夠對水分散和非水分散體系中的 zeta 電位進行精確的測量。

分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩定性。 

Zetasizer Nano 系列中,可根據實際應用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的*，能夠測量所有三項參數，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

所有系統均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現趨勢測量和樣品制備的自動化。 




 

粒徑測量
zui大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175º 和 12.8º
zui小樣品量: 12 μl 

Zeta電位測量 
Zeta電位范圍: 無實際限制 
電泳遷移率: 0 – 無實際上限
zui大樣品電導率: 200mS/cm
zui大樣品濃度: 40% w/v
zui小樣品量: 150 μl 
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動態光散射）
                      980 - 2 ×10⁷ Da * （靜態光散射）
zui小樣品量 12 μl

* 取決于樣品

新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀 
持續革新與優化 樹立納米分析新*

融合多項技術 挑戰顆粒表征極限 
? 粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm
? 濃度范圍廣: 0.1ppm—40%（w/v）
? 測量分子量
? 高分辨率高靈敏度Zeta電位測量 
     zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品zui高至40%（依賴于樣品）的極限能力

多項技術
? 馬爾文NIBS非侵入背側光散射技術使儀器具有zui高靈敏性
? 馬爾文的新一代PALS+M3技術,將*的硬件與軟件技術相結合,有效檢測散射光的相位變化
? 馬爾文的毛細管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

強大多功能系統
? **的APD檢測器,靈敏度無出其右
? 特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩定性
? 標準配置研究級高速數字相關器
? 175度和12.8度相結合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量