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HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀 參考價：面議
動態光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質結構。主要應用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制...
激光粒度儀 參考價：面議
激光粒度分析儀以在亞微米范圍內的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優勢還發展出全新的特性。HORIBA依據多年經驗，進一步完善數據運算方法，以不斷滿足用戶對更...
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