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簡介：的性能，讓您盡享輕松自如！支持廣泛研究領域的*分析工具JSM-7800F熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

簡介：SEM掃描電子顯微鏡JSM-6010系列InTouchScope觸控式電子顯微鏡JSM-6010LA/JSM-6010LV是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設計的InTouchSco...

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簡介：國家有色金屬及電子材料分析測試中心電鏡室，配備三臺掃描電鏡，JSM-7001F場發(fā)射型掃描電鏡，JSM-6510以及JSM-840掃描電鏡。其中，JSM-7001F配備了EDS與EBSD一體化分析...

簡介：超越光學極限的高倍率■zui高倍率達30,000X■BSE(背散射)探測器■加速電壓5kV~30kV范圍可調■多種真空模式-標準/荷電減輕■等待時間少于2分鐘■3軸控制載物臺-X方向、Y方向和Z方...

簡介：超越光學極限的高倍率■zui高倍率達60,000X■SE(二次電子)和BSE(背散射)-多探測器■加速電壓5kV~30kV范圍可調■多種真空模式-標準/荷電減輕■等待時間少于2分鐘■3軸控制載物臺...

簡介：超越光學極限的高倍率■zui高倍率達60,000X■SE(二次電子)和BSE(背散射)-多探測器■加速電壓5kV~30kV范圍可調■多種真空模式-標準/荷電減輕■等待時間少于2分鐘■3軸控制載物臺...

簡介：超越光學極限的高倍率■zui高倍率達100,000X■SE(二次電子)探測器(可選BSE探測器)■加速電壓5kV~30kV范圍可調■多種真空模式-標準/荷電減輕■等待時間少于2分鐘■5軸控制載物臺...