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簡介：Coat-Pro離線涂層測厚儀由德國AIMSystems有限公司研發生產，采用光熱紅外法技術原理，可用于實驗室或者工業產品涂層厚度的離線測量，其組成包括測厚儀，支架，電腦以及測量軟件。

簡介：CH-3A鋼珠法玻璃瓶測厚儀是CH-1A的升級版本，測試結果保留到小數點后兩位，并且全部操作采用觸摸屏。

簡介：全PTM-1700相變分析儀自動一-鍵測量，操作簡單，省時、省事；超高采樣速率1測量快速、準確，工作效率高；觸摸屏操作與電腦操作兩種模式,測量隨心所欲

簡介：OXFORDCMI165帶溫度補償功能的面銅測厚儀牛津儀器公司推出的OXFORD-165，是世界帶溫度補償功能的面銅測厚儀，手持式設計符合人體工學原理。面銅測量往往受到樣品溫度的影響，OXFORD...

簡介：NCS-TM25是智能型超聲波測厚儀，采用的高性能、低功耗微處理器技術，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進行測量。可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測...

簡介：奧林巴斯超聲測厚儀45MG是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器，可用于幾乎所有測...

簡介：日本kett電磁測厚儀內置打印機的電磁膜測厚儀的鼎級型號測量范圍0-1500μm小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％數據存儲1500點，統計計算功能

簡介：白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。

簡介：白云母MICAmuscoviteV1（Muscovite,K2O-Al2O3-SiO2）晶體尺寸：~25mm電學性能：絕緣體晶體結構：單斜晶結構晶胞參數：a=0.519,a=0.901,c=1.9...

簡介：球坑測厚儀bct1000采用優質機械加工部件和簡單的操作，使得BCT1000球坑測厚儀，特別適合于要求快速測量硬質涂層（1um）的厚度。