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簡介：EX-3000型熒光X線鍍層測厚儀(膜厚計)

簡介：COSMOS-1X型熒光X線鍍層測厚儀(膜厚計)

簡介：GCT—311型電解式鍍層測厚儀(膜厚計)

簡介：CT-4型電解式鍍層測厚儀(膜厚計)

簡介：CT-3型電解式鍍層測厚儀(膜厚計)

簡介：該系列包括LE-900J/LH-900J/LZ-900J三種型號LE-900J為電磁型/LH-900J為渦流型/LZ-900J為兩用型

簡介：LE-200J為電磁型/LH-200J為渦流型/LZ-200J為兩用型該系列包括LE-200J/LH-200J/LZ-200J三種型號

簡介：有相同長度的齒1和齒12的梳形測量儀器（圖2）穿透濕膜到基材。在齒2到齒11間，與基材的距離逐漸增長。齒6到齒11浸到涂層中而齒2到齒5不與涂料接觸。測量結果則為齒5和齒6的平均值。

簡介：濕涂層的上表面和基材的高度差異（D）通過儀器的手動調節(jié)插針(1)(有2個支腳(2))穿透涂層并停留在基材上來測量(圖4)。

簡介：碟形測量儀器（圖1）在濕膜表面滾動。在此過程中兩個滾花，對中輪緣（1）在基材上滾過，當輪緣到凸輪的距離等于被測濕膜厚度時偏心凸輪（2）則會粘上涂料。