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白光干涉測厚儀
電磁/電渦流測厚儀
X射線熒光測厚儀
測厚儀 手提式X射
技術參數
1.波長:200-1100nm 2.光譜分辨率:3-10nm 3.波長精度:<0.3nm 4.溫度漂移:<0.005nm/K
主要特點
1.測量透明或者半透明的薄膜或者涂層 2.無損/非接觸 3.精確,顯示精度可以達到納米 4.在線測量或者離線測量
白光干涉測厚儀是解決普通測厚儀不能解決的一些厚度測量問題. 例如:它可以同時測量白色膠帶上膠的厚度和塑料基體的厚度。 更多測厚儀,請接洽我公司。
白光干涉薄膜厚度測量
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