ARL X’TRA衍射儀是精美的粉末X-射線衍射分析系統：全新工藝設計的測角儀和Peltier半導體溫差制冷Si(Li)固體檢測器的結合使該儀器具有高性能價格比。

功能包括：定性和定量物相分析,Rietveld 法無標樣定量分析,結晶分析,低溫和高溫X-射線衍射

ARLX'TRAX是一種經濟實用的高質量粉末衍射應用的儀器

 ARLX'TRA是Thermo的粉末衍射系統，融合了25年XRD生產經驗和的工藝設計。ARL X¢TRA具有優良的性價比，適用于學術研究、化學、醫藥、聚合物、半導體、薄膜、金屬和礦物等方面應用。

 利用立式q:q測角儀，該儀器便利于樣品制備、樣品交換器更替和特殊樣品架的使用，為處理粉末樣品提供便利的衍射幾何學。為優化實驗條件，測角儀采用了可移動的雙索拉狹縫和采用微米控制的連續可變的狹縫來調整入射束和衍射束的寬度。ARL X¢TRA測角儀的X-射線光學系統確保具有的分辨率，對小角衍射分析在2q低達0.5°處可獲得衍射峰，系統的模塊化配置允許使用多種的樣品臺來滿足寬范圍的應用。

 ARLX'TRA能配備Thermo*的杰出的Peltier制冷Si（Li）固體檢測器。這種探測器與閃爍檢測器相比有優秀的分辨率，而且不需要濾片和單色器就可以除去K-Beta和X-射線熒光，因此，衍射峰強度高于其他系統。

 ARLX'TRA系統控制軟件WinXRD軟件包，是一個在WindaowÒ NT操作環境下運行的真正的32位多任務的數據采集和分析軟件包。