BI-DCP是基于經典的離心/沉降原理，通過高精度的數字式電機控制，是迄今為止具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率zui高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。

    重力或者離心力使得懸浮在樣品轉盤腔內的顆粒可以產生沉降或離心運動。大顆粒運動較快，小顆粒運動較慢，隨著時間的增加，大小顆粒自然分級并依次通過靠近轉盤腔底內部的檢測器，因而具有*的分辯率。



1. 應用價值：
1） 精確分辨復雜體系的粒度分布從而提高流變性能和結構特性的分析；
2） 通過測量對原料進行監控，避免由原料帶來的生產問題；
3） 通過簡化步驟和減少測量時間來提高效率；
4） *化材料特性從而提高產品性能；
5） 研究體系粒度的基本構成從而幫助新產品和生產工藝的開發。
2. 應用領域
1） PS、PVC及其它聚合物
2） 炭黑、
3） 金屬氧化物、金屬粉末
4） 油墨、氧化鋁、氧化鈦
5） 制藥、化妝品、食品、粘合劑
6） 涂料、無機染料
7）陶瓷、粘土、礦物

1） 進樣方式：均相進樣（HOST模式）探頭掃描速度：0.05~10mm/min
2） 檢測光源：X射線
3） 操作模式：重力沉降模式與離心沉降模式
4） 粒度范圍：0.01～100um（與粘度、密度有關）
5） 數據庫：無需消光校正
6） 精度：2％
7） 重復性：1％
8） 旋轉盤材料：標準PMMA或特殊抗腐蝕盤
9） 電機轉速：500～6000rpm，10000rpm可選
10） 轉速精度：0.01%