Bruker’s Dimension® Icon™原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)引進(jìn)新的性能，功能和AFM以用于科學(xué)和工業(yè)的納米級(jí)研究。Dimension系統(tǒng)建立在世界zui廣泛應(yīng)用的大范圍樣品AFM平臺(tái)的基礎(chǔ)上，開創(chuàng)了十年間技術(shù)革新、客戶反饋和工業(yè)*應(yīng)用靈活性。這個(gè)系統(tǒng)從上到下的設(shè)計(jì)，顯示出低漂移低噪音性能，能夠使用戶在幾分鐘內(nèi)獲得無(wú)偽影成像，而不再需要幾分鐘。Dimension Icon系統(tǒng)配置

• 原子力顯微鏡 布魯克（原veeco）Dimension Icon
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• 傳感器設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了與開環(huán)噪音水平一樣的閉環(huán)性能，用于大型樣品前所未見的分辨率測(cè)試和針尖掃描AFM
• 顯著減小基底噪音，能夠在接觸模式下以原子力水平成像，TappingMode™中少于30pm
• 漂移率小于每分鐘200pm，產(chǎn)生無(wú)扭曲圖像

*的生產(chǎn)率

     原子力顯微鏡 布魯克（原veeco）Dimension Icon

• 綜合反饋對(duì)準(zhǔn)工具帶來(lái)快速優(yōu)化的探針配置
• 高分辨率相機(jī)和X-Y配置帶來(lái)快速高效的樣品導(dǎo)航性能
• 新型ScanAsyst成像和帶有默認(rèn)試驗(yàn)?zāi)Ｊ降?/span>NanoScope®軟件，將十年的知識(shí)精華融入這個(gè)預(yù)先配置設(shè)置中

優(yōu)秀的多功能性

●針尖和樣品的開放性入口，可進(jìn)行大量的標(biāo)準(zhǔn)

原子力顯微鏡 布魯克（原veeco）Dimension Icon

性和定制性實(shí)驗(yàn)

• 儀器和軟件設(shè)計(jì)利用了所有當(dāng)今和未來(lái)新進(jìn)的*原子力顯微鏡 布魯克（原veeco）Dimension Icon的模式和技術(shù)
• 用戶實(shí)用程序腳本提供了半自動(dòng)測(cè)量和分析性能
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