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V-400E 德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 安賽斯(中國)有限公司
  • 品牌
  • 型號 V-400E
  • 所在地 香港特別行政區
  • 廠商性質 經銷商
  • 更新時間 2019/10/10 9:26:05
  • 訪問次數 1664

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德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E是利用超聲波對微觀物體進行成像的無損檢測設備。可對各種材料、元器件內部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質、裂紋進行非破壞性檢測;還可進行涂鍍層結合質量,內部焊接質量,鍵合層缺陷等檢測、空洞率計算等。

詳細信息 在線詢價

安賽斯(中國)有限公司---*檢測設備優質供應商

產品標簽:超聲波掃描顯微鏡,超聲掃描顯微鏡,聲掃顯微鏡,超聲C掃描系統 

 

 

德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E是利用超聲波對微觀物體進行成像的無損檢測設備。可對各種材料、元器件內部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質、裂紋進行非破壞性檢測;還可進行涂鍍層結合質量,內部焊接質量,鍵合層缺陷等檢測、空洞率計算等。 

 

德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E應用領域:

  • 半導體電子行業:半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS;

  • 材料行業:復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;

    生物醫學:活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等

超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應用:

  • 晶圓面處分層缺陷

  • 錫球、晶圓、或填膠中的開裂

  • 晶圓的傾斜

  • 各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠等)

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優勢:

  • 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內部結構

  • 可分層掃描、多層掃描

  • 實施、直觀的圖像及分析

  • 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計

  • 可顯示材料內部的三維圖像

  • 對人體是沒有傷害的

  • 可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)

 

 

更多產品信息,請登錄安賽斯(中國)有限公司獲取。

 

 

V-400EV-700EV-1000E單探頭超聲波掃描顯微鏡

 

  • -該型號超聲波掃描顯微鏡系統是實驗室、研發和工業生產線主流機型。

  • 掃描速度高至:2000mm/s

  • 與其它品牌機型相比掃描效率高30%

  • 小掃描范圍:200μm×200μm

  • 射頻大帶寬:500MHz

  • 新型FCT防誤判*探頭

     

    V-duo、V-quatrro、V-Octo多探頭超聲波掃顯微鏡

     

    • 多探頭超聲波掃描顯微鏡系統,同時使用2只、4只或8只換能器

    • 大掃描速度:2000      mm/s

    • 與其它品牌相比掃描效率高30%

    • 小掃描范圍:200μm×200μm

    • 帶寬:550MHz

    • 新型換能器

     

     

    Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描系統

    它是聲學顯微成像系統和光學顯微成像系統的*結合。

    換能器頻率范圍:100MHz——2000MHz頻率實現高分辨率
    探測深度<100nm
    特殊平均模式使信噪比更好
    同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯性。
    光聲效應增強了對比性
    大放大倍數:1000
    入射光顯微鏡和倒置光學顯微鏡可調節


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