顯微粒子成像測速系統（Micro PIV）設計用來測量微米級空間分辨率下示蹤顆粒速度場。它利用粒子成像測速原理，將常規 PIV 應用拓展到微尺度范圍。

顯微粒子成像測速系統(Micro PIV)設計用來測量微米級空間分辨率下示蹤顆粒速度場。它利用粒子成像測速原理，將常規 PIV 應用拓展到微尺度范圍。
        系統采用雙脈沖Nd:YAG激光作為光源，通過大數值孔徑光圈熒光顯微鏡聚焦到微流動模型上。微流動采用熒光顆粒作為示蹤物，通過顯微鏡采集到的顆粒散射光的波長比入射光波長要長。由于波長不同，這個光波信號通過一個濾波透鏡與入射光分離開，并由顯微粒子成像測速系統(Micro PIV)相機拍攝下來。雙曝光產生的顆粒圖像，經過高級精密的PIV算法處理后獲得微尺度流場的速度場結果。
系統主要參數指標：
1. 速度場測試范圍：100微米至宏觀尺度
2. 典型應用所需顯微物鏡放大倍率：5X至40X
3. 顯微物鏡類型：平場長工作距離熒光物鏡。
4. 標配CCD相機靈敏度：65 % @ 500 nm
5. 標配CCD相機分辨率：1376 x1040 像素
6. 典型情況下的測量速度上限：采用5X顯微物鏡，雙幀時間間隔為500納秒，則測量速度上限約為20米/秒。
7. 顯微鏡主體可選正置和倒置兩種型號。
8. 速度場分析精度：可達0.1像素。