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泰勒Luphoscan 3D非球面光學輪廓測量系統

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泰勒Luphoscan 3D非球面光學輪廓測量系統
LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的量測。該儀器的主要特性包括高速量測、特殊表面的高靈活度量測 (例如;反曲點的輪廓或平坦的尖點), *大物體直徑可達420 mm, 因為采用多波長干涉技術(MWLI)傳感器技術, 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

詳細信息 在線詢價

LuphoScan系統能提供高品質光學表面3D形狀量測的效益:

        ?    對任何旋轉對稱的表面深入分析 - 非球面、球面、平面和自由曲面
        ?    超高的、可重復精度 - ≤ ± 50 nm
        ?    可量測任何材料 - 透明、鏡面、不透明、拋光、研磨
        ?    偏離的大球面 - 不受偏離限制。例如,能夠量測盤式或鷗翼表面,以及彎曲點的輪廓
        ?    大斜坡量測 - 可達90° (例:半球量測)
        ?    完整透鏡特征* - 透鏡厚度、楔形誤差、偏心誤差、透鏡安裝位置

 

LuphoScan 260/420 HD測量臺開創了光學表面高精密計量的新領域。新一代的測量系統能夠測量物件角度大至90° 度,**測量精度高于±50 nm (3σ) 。測量結果有著很高的重復性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對高精度有著很高要求應用的理想選擇,是生產過程控制的*基本要求。可測量坡度很高的表面、具有不同間距方向的表面、很小的表面例如手機鏡頭模具。LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(MWLI)的干涉式掃描測量系統。 它專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設計, 例如非球面光學透鏡。該系統能為高質量的光學表面3D形狀測量提供**效益。LuphoScan量測平臺是一款利用多波長干涉技術(MWLI)的干涉式掃描量測系統。它專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀量測而設計,例如非球面光學透鏡。LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的量測。該儀器的主要特性包括高速量測、特殊表面的高靈活度量測 (例如;反曲點的輪廓或平坦的尖點), *大物體直徑可達420 mm, 因為采用多波長干涉技術(MWLI)傳感器技術, 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

 

應用領域:

LuphoScan測量系統用于測量可旋轉的對稱表面的3D拓撲結構, 例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。 測量工作臺的設計能夠確保測量大多數的透鏡, 而不受任何球形偏離、稀有頂端形狀(平頭)、傾斜或者發射點圖的限制。除了標準的測量應用外, 還可以使用LuphoScan測量平臺的特殊擴展工具LuphoSwap不同擴展功能, 來完成多種光學要素特征的測量。該工具能夠輔助測量透鏡厚度, 以及楔形與偏心誤差。 除此之外, 額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡,如分段表面包括矩形部件、環形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。

 

 

 

使用LuphoSwap擴充功能完成對光學元件形狀誤差特性的測量:

            LuphoScan 260和LuphoScan 420量測平臺可以應用 LuphoSwap的擴充功能,來對透鏡兩個表面的所有特征進行連續量測。一個特別的量測概念能夠將兩個表面的量測結果相關聯起來。這個概念就是在量測形狀誤差的同時,LuphoSwap能夠確定透鏡的精確的厚度、楔形度和偏心度誤差以及旋轉方向。此外, 還能夠計算出透鏡座的位置。這個強大的工具功能來自于LuphoSmart感測器技術,一個特別的夾具模式,以及額外的(跳動)基準傳感器。

 

 

 

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