一、適用范圍

本設備適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發器transceiver高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。 

二、技術參數

溫度范圍：-80℃~+250℃ 

溫度轉換速度：-55℃~+125℃/-125℃~-55℃≤10秒 

溫度精度：±0.5℃ 

溫度解析度：0.01℃ 

設備氣流量：4~18SCFM（1.9L/s~8.5L/s） 

測量模式：AIR MODE(氣流感測)或 DUT MODE(速端測量) 工作模式:高溫-常溫-低溫/高溫-低溫/高溫-常溫/低溫-常溫/自定義編程 

運行模式:手動/程序/手動循環/自動循環 

外觀尺寸:寬度 660mm，深度 1050mm，高度 1000mm 

機臺重量：150KG 

手臂延伸尺寸：140cm 

與低尺寸：720~1220mm 

耐溫玻璃罩尺寸：內徑 140mm，高度 55mm（可以按產品尺寸定做） 

電源：單相 220V、50HZ、40A 

三、氣源要求 

進氣溫度：+15℃~+25℃ 

進氣壓力：90~110PSlG(6.2~7.6BAR) 

進氣流量:1~1.5m3/min 

進氣露點:≤10℃ 

含油量:≤0.01PPM