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Autoconcept GD90-RF 射頻輝光放電質譜儀AutoconceptGD90-RF

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公司介紹:

英國質譜儀器有限公司(MSI)是一家小公司,專門從事高性能磁性行業雙聚焦質譜儀的設計,旨在滿足有機和無機分析市場的需求。 它繼承了Kratos Analytical的技術,該技術是1957年引入商業質譜儀的。從那時起,對高精度,高分辨率儀器的需求呈指數增長。 在MSI,我們通過投資于新的開發和應用,正在將這項技術提升到新的水平方面取得了巨大的進步。


產品介紹:

射頻輝光放電質譜儀 Autoconcept GD90-RF

Autoconcept GD90-RF是一個專為高精度元素分析所設計的高分辨輝光放電質譜儀。此輝光放電質譜儀(GDMS)提供了固體金屬與絕緣體的直接分析檢測。它具有非常寬的元素覆蓋范圍,可得到超過70種元素的有效數據,靈敏度高,輕元素重元素均可。
GDMS技術使原子化(碎片化)過程與離子化過程分開進行,故而可容易的對ppb至ppt級別的痕量雜質進行測量。此法還使得GDMS技術擁有極小的基體效應且無須特定參照材料。它可對金屬與合金進行全掃描分析,可對半導體進行整體的測量分析,可對多層結構與鍍層進行深度剖析。是包括金屬、合金、半導體以及絕緣體等高純材料的生產與質量控制的理想工具。

輝光放電質譜儀離子光學系統

輝光放電質譜儀主要由三部分構成:輝光放電離子源、質量分析器、檢測器。另外還包括一些輔助系統,如真空系統、離子光學系統、電學系統和數據采集控制系統等。

而Autoconcept GD90-RF具有靈活的雙離子源系統:直流源(DC)和射頻源(RF)。GD90-RF離子源包含直流源和射頻源,切換簡單方便,可以直接分析不同尺寸的塊狀、針狀及粉末樣品。高電離閾值材料離子源室,有效避免電離時帶來的污染。


DC直流源系統

直流源

RF射頻源系統

射頻源

DC直流源可直接分析導體樣品, 或者通過混合法或第二陰極法分析半導體和非導體樣品。

RF射頻源可直接分析導體、半導體或絕緣體的固體樣品

· 低功率RF模式--深度剖析應用

· 中功率RF模式--易碎樣品應用

· 高功率RF模式--痕量分析


dc mode

Cu63 D.C Mode

峰高 :

· 1.35 x10-9 A

· 1.35V

· 8.4 x 109 cps


rf mode

Cu63 RF Mode

峰高

· 2.4 X 10-9 A

· 2.5V

· 1.5 x 1010 cps



AutoConcept GD90-RF的主要特性:

  • 對塊狀、針狀或粉末狀的導體或非導體樣品進行直接分析;

  • 高分辨率,特別是對于有干擾離子存在的測定而言十分重要;

  • 廣泛的元素涵蓋范圍,軟件中包括70個元素相關的干擾離子數據;

  • 由于原子化和離子化過程發生在不同區域,帶來可忽略的基體效應;

  • 低至亞ppb級的檢測限;

  • 具有深度剖析能力;

  • 極少的樣品制備過程。



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