Bruker全新設計的新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的革命。Q2 ION是現今市場上zui為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設計理念，緊湊的體積和強大的分析功能得以*地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業中的原料檢驗及質量控制。儀器誘惑力的價格定位及較低的運行成本使其備受眾多中小企業中青睞。

技術參數：

光學系統
非渡膜CCD檢測器，具有zui低的暗電流
平面光柵
波長覆蓋范圍：170-685nm
分辨率：30pm
氬氣驅氣以確保*光通量。
譜圖解析技術
動態溫度補償技術，確保在10至45度的外界溫度下具有*的穩定性

分析方法組件
可應用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類型
適應未來升級需要

激發源
免維護，兩相ＰＷＭ激發源
頻率５０－１０００Ｈｚ

火花臺
免維護
檢測期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ

軟件
給予Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件
用戶分級權限
定性及定量分析
操作軟件含分析數據庫及辦公軟件接口
牌號庫功能

電源
１００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ）
檢測期間２００Ｗ，待機時５０Ｗ
１６Ａ慢融保險絲或２５Ａ慢融保險絲

尺寸
長Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍ×３９０ｍｍ×２２０ｍｍ
重量：１９ｋｇ．

主要特點：

*的設計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進行現場分析工作。除此之外，儀器還有配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。
    Q2 ION采用了技術—平面視場CCD光學系統，該技術使得Q2 ION的設計突破了傳統光譜的桎梏。光學系統所配備的動態溫度補償技術（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性。