步入式溫控環(huán)境箱老化房，又叫高溫老化房、煲機(jī)房和燒機(jī)房,是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。

步入式溫控環(huán)境箱，又叫高溫老化房、煲機(jī)房和燒機(jī)房,是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì),也是針對(duì)于開(kāi)關(guān)電源、手機(jī)充電器、電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、監(jiān)視器、、LED，生物器材等介面卡等做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備，此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫(kù)板隔間組合而成，配上主配電箱、測(cè)試架、溫度控制器、定時(shí)器、各種電器開(kāi)關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境（40℃ -70℃±5℃、電源ON-OFF動(dòng)作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測(cè)試時(shí)間可在0-99.9小時(shí)內(nèi)任意設(shè)定，通過(guò)此測(cè)試程序可查出不良品或不良零件，是制程、品管之設(shè)備。由于老化房的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的溫度、電源質(zhì)量、負(fù)載量、工作時(shí)間及操作人員的安全、習(xí)慣等要求，所以，一套合格的老化設(shè)備，應(yīng)該是一套安全可靠， 節(jié)能、功能齊全和具有可擴(kuò)充性的設(shè)備。

產(chǎn)品用途：廣泛應(yīng)用于電源電子、LED、汽車電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療…等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。

步入式溫控環(huán)境箱的主要技術(shù)參數(shù)：

1.1 空間尺寸：D5150mm×W4150mm×H2575mm (外型尺寸)。

D5000mm×W4000mm×H2500mm (內(nèi)空尺寸)。

1.2 溫度范圍：常溫到85℃。

1.3 溫度波動(dòng)：≤±1℃。

1.4 溫度偏差：≤±2℃（在80℃空載情況下測(cè)得數(shù)據(jù)）。

1.5 控制方式：按鍵式控制器。

1.6 運(yùn)行方式：溫度可調(diào)，恒定運(yùn)行。

1.7 安裝電源：AC~380V；50 Hz。

1.8 老化房功率：18KW（恒溫后節(jié)能70%）。

1.9 噪音大小：≦60分貝（在老化房外面1.5米外側(cè)得數(shù)據(jù)）。