美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。

美國CID CI-710葉片光譜探測儀產品簡介：
?CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
?通過光譜可以定性、定量的研究葉片內各組分葉綠素a或b、蛋白質、糖、礦物質等含量及比例變化
?直觀的光譜圖像和現場數據存儲,為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段

美國CID CI-710葉片光譜探測儀產品特點：
?非常便攜，適合于室內或野外使用
?非破壞性精密地測量葉片在400~950nm波長范圍內的反射率、透射率和吸收率
?掃描速度快，靈敏度高
?USB接口連接UMPC數據處理終端
?樣品類型，葉片或扁平的物體

美國CID CI-710葉片光譜探測儀標準配置：
?光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數據終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱

美國CID CI-710葉片光譜探測儀技術參數：