PXH-200探針臺具有優異的機械性能和高精度測試功能，可搭配不同的測試組件實現多種測試功能，卡盤快速移動功能，可滿足客戶對整片晶圓高效測試的需求，非常適合研發類實驗室的一次性預算購置。
測試方向：DC 直流/（IV、CV）測試、RF 射頻測試、FA 失效分析測試、低電流測試、1/f 噪聲測試、器件表征測試、老化測試、大功率/大電流及/大電壓測試等。