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電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描

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簡要描述:電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產品概述多功能原子力顯微鏡平臺,滿足納米級測量的需求原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機器性能測量的能力。納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM).倒置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

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電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產品概述

多功能原子力顯微鏡平臺,滿足納米級測量的需求

原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機器性能測量的能力。
納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM).
倒置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

電化學測試的搭配平臺

電池,燃料電池,傳感器和腐蝕等電化學研究是個快速增長的領域,然后許多原子力顯微鏡平臺不能直接滿足其特殊的需求。Park NX12的人性化設計,為快速操作提供便利,從而達到化學研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括:

多功能易用電化學池
惰性氣體和濕度的環境控制選項
雙恒電位儀的兼容性

研究人員可利用Park NX12平臺實現各種電化學應用:

掃描電化學顯微鏡(SECM)
掃描電化學池顯微鏡(SECCM)
電化學原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學掃描隧道顯微鏡( EC-STM)


電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的規格參數

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產品配圖

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