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FM-Nanoview EC-AFM環境控制型原子力顯微鏡(光學金相顯微鏡原子力一體機)

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光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計,功能強大同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響可同時在普通空氣環境、液體環境、溫度控制環境、惰性氣體控制環境下工作樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設計,內部可充放特殊氣體,無需增加密封罩激光檢測采用了垂直光路設計,配合氣液兩用型探針架可在液體下工作單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品超高倍光學定位系統,實現探針和樣品掃描區域精確定位集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%

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產品介紹

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FM-Nanoview EC-AFM產品特點

  • 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計,功能強大
  • 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響
  • 可同時在普通空氣環境、液體環境、溫度控制環境、惰性氣體控制環境下工作
  • 樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設計,內部可充放特殊氣體,無需增加密封罩
  • 激光檢測采用了垂直光路設計,配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
  • 單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描
  • 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品
  • 超高倍光學定位系統,實現探針和樣品掃描區域精確定位
  • 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%


應用案例

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技術參數

EC-AFM技術參數

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