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FM-Nanoview EC-AFM產品特點

• 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計，功能強大
• 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響
• 可同時在普通空氣環境、液體環境、溫度控制環境、惰性氣體控制環境下工作
• 樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設計，內部可充放特殊氣體，無需增加密封罩
• 激光檢測采用了垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
• 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
• 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品
• 超高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位
• 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%

應用案例

EC-AFM技術參數