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AFM-O光學原子力顯微鏡一體機產品特點

• 光學顯微鏡和原子力顯微鏡一體式設計，光電控制一體化；
• 同時具備光學和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時掃描成像，互不影響；
• 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能；
• 采用了垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可同時在空氣或液體中使用；
• 利用了高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位；
• 簡易的激光光斑調節方式，可通過光學CCD窗口實時觀測及調節光斑；
• 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，準確定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；
• 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
• 配備氣動式減震臺，抗干擾能力強，不影響儀器使用操作；
• 集成掃描器硬件非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%。

應用范圍