由美國Anasys儀器公司*科研團隊所開發的強大的納米級定位分析技術。具有以下優勢：
?熱學性能：具有保護的ThermaLever探針能夠提供納米熱分析
?機械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機械分析
?化學性能：能升級增加了納米紅外光譜，可實現局部化學組分分析
美國Anasys儀器公司的AFM+可以提供完整的原子力顯微功能，具有強大的分析能力，使得AFM不再僅僅是一個成像工具。主要優勢方面:
完整的AFM工作模式
l 包含所有常規成像模式
l 高分辨率低噪音的閉環成像
安裝與操作便捷
l AFM+只為zui便利的使用而設計制造。預裝的懸臂能夠快速簡便的完成對齊。
l 可自動運行的試樣平臺和高質量的棱鏡使得對特定區域的快速定位分析成為可能
l 儀器設計集幾十年的AFM技術成就，即使新手使用也能快速獲取結果。
由美國Anasys儀器公司科研團隊所開發的強大的納米級定位分析技術
l 熱學性能：具有保護的ThermaLever探針能夠提供納米熱分析
l 機械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機械分析
l 化學性能：能升級增加了納米紅外光譜，可實現局部化學組分分析
AFM+ 熱分析
納米熱分析（nano-TA）模式
基于我們所*的熱探針技術，AFM+可以使你獲得樣品任何特征區域的轉變溫度（熔點或玻璃轉化溫度）或者轉變溫度的掃描圖。
上圖為調色劑顆粒的nano-TA數據及其AFM圖像。將顆粒內嵌在環氧樹脂中然后進行超薄切片便可得到試樣。試樣的形貌圖顯示了其結構上的多樣性，而這些可以用nano-TA進行分析。這是因為調色劑顆粒包含了大量存在不同的轉變溫度的組分（石蠟，樹脂，染料等等）。
掃描熱顯微鏡（SThM）模式
AFM+的這一模式允許用戶將試樣的導熱系數和溫度梯度成比例的進行成像分析。
上圖所示的是利用AFM+系統的掃描熱顯微鏡功能所繪制的碳纖維增強環氧樹脂復合材料的圖像，其中表征區域大小為4μm×8μm。測試前，需要對試樣進行切削打磨以形成一個光滑的平面。高度影像（左側）顯示了若干根碳纖維，而SThM圖像（右側）則顯示了在兩個材料上探針溫度的變化。這是由兩種材料不同的導熱系數所產生的。這個例子充分展示了SThM技術的高橫向分辨率。
轉變溫度顯微鏡模式
轉變溫度顯微鏡（TTM）是一個全自動化模式。它能夠快速的完成一系列nanoTA測試，并自動分析溫度變化曲線獲得試樣的轉變溫度。
上圖是具有紋理結構的左旋聚乳酸球粒（PLLA）的光學圖像和TTM圖像。TTM圖像由XY移動載物臺繪制而成。TTM圖像中的藍色區域代表PLLA的無定形區，而紅色和黃色則是結晶區。在結晶過程中反復改變溫度會導致結晶度的高低變化，zui終形成了洋蔥狀結構的球粒。該樣品是由東京技術研究所的J. Morikawa提供。
可升級的擴展分析能力
AFM+IR 光譜
l 點擊式的納米紅外光譜
l 與FTIR譜庫相對應的紅外光譜
l 化學成像
上圖為鏈霉菌的形貌圖以及在1650cm-1和1740cm-1處的紅外掃描圖。在生長后期，這些細菌形成了充滿脂質的囊泡。因此，通過分析1740cm-1處的脂類特征吸收峰，研究人員可以確定這些囊泡的位置。nanoIR的分辨率能夠達到100nm以下。
AFM+ 機械性能分析
采用接觸共振法，AFM+能夠檢測到材料的硬度變化及其表面形貌，從而反映試樣的機械性能。
上圖為三元共混聚合物的形貌圖和硬度掃描圖。通過分析懸臂的接觸共振能夠檢測到模量的變化從而繪制出硬度掃描圖。從硬度掃描圖中能夠清楚的區分開三種材料。
多功能納米檢測工具
新一代AFM+可以全面升級到nanoIR系統——一款基于探針且可利用紅外光譜在納米尺度下表征試樣化學組成的檢測工具。nanoIR也可對特定區域的形貌，機械性能和熱性能進行高分辨率表征。nanoIR的潛在應用領域橫跨聚合物科學，材料科學和生命科學以及對結構和性能相關性的深入研究等方面。
上圖為nanoIR系統的多功能檢測示例。試樣是由聚乙烯和聚丙烯構成的多層結構薄膜。根據它們特定的吸收譜帶，nanoIR系統能夠清楚的區分開這兩種材料。此外，nanoIR也能夠檢測出兩種材料不同的硬度和轉變溫度。
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