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科研級暗場金相顯微鏡XJ-52BD

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產品概述:科研級暗場金相顯微鏡XJ-52BD配有大范圍移動的載物臺、采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念,帶有偏光裝置、暗場裝置,可實現偏光觀察、暗場觀察等功能

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產品概述:
        科研級暗場金相顯微鏡XJ-52BD配有大范圍移動的載物臺、采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念,帶有偏光裝置、暗場裝置,可實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。總放大倍數:50-800X
◆產品特點:
1、采用了的無限遠光路設計,提供了的光學系統。
2、采用大視野目鏡和明暗場長距平場物鏡,視場平坦,成像清晰。
3、配置了偏光、暗場裝置、可選配微分干涉裝置,拓展了功能。
4、整機采用了防霉處理,保護了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。
5、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
6、配有大范圍移動的移動載物臺,適合對大型工件觀察和研究。
◆典型應用:
1、電子工業制造業對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性,3、分析金屬、礦相內部結構組織。

規格參數:

一、顯微鏡參數:

序號 名稱 技術參數
01 平場目鏡 大視野WF10X(Φ22mm)
02 明暗平場物鏡 無限遠長距PLL 5X/0.10、10X/0.25、20X/0.40、50X/0.60、80X/0.75
03 總放大倍數 50X-800X
04 觀察頭 三目,鉸鏈式30°傾斜可360°旋轉
05 轉換器 五孔(內向式滾珠內定位)
06 粗微調焦機構 粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm.
07 載物臺 雙層機械移動式(尺寸:280mmX270mm,移動范圍: 204mmX204mm)
08 光瞳距離 53-75mm
09 落射照明系統 12V50W鹵素燈, 亮度可調
內置視場光欄、孔徑光欄、(藍、綠、黃、磨砂玻璃)濾色片轉換裝置,
10 暗場偏光裝置 推拉式起偏振器  暗場可移出視場
11 儀器重量 凈重11.0公斤    毛重12.5公斤
12 儀器尺寸 儀器尺寸42X45X45(cm) 包裝尺寸45X50X50(cm)


二、目鏡參數:

型號
T ype
放大倍率
Magnification
視場直徑(mm)
F.O.V
外徑(mm)
Tube diameter
WF10X/18 10X Φ22 Φ30


三、物鏡參數:

放大倍率 Magnification 數值孔徑 N.A 分辨率 R(μm) 工作距離WD(mm) 共軛距離Conjugate(mm) 齊焦距離Parfocus(mm) 蓋玻片厚度CoverGlass(mm)
5X 0.12 2.30 9.70 195 45 0.17
10X 0.25 1.10 9.30 195 45 0.17
20X 0.40 0.70 7.23 195 45 0.17
50X 0.70 0.55 2.50 195 45 0.17
80X 0.80 0.42 1.25 195 45 0.17

一、顯微鏡選購件:

序號 名稱 技術參數
01 測微目鏡 10X(Φ22mm)
02 明暗場物鏡 40、60X、100X
03 物鏡測微尺 0.01mm
04 DIC微分干涉裝置 微分干涉相襯插板

二、攝像系統選購:

序號 名稱 參數及功能
01 CMOS數字攝像頭   300萬、500萬、800萬、900萬、1000萬、1400萬(具有單張、定時采集圖像、錄像、顯示比例尺、測量、圖像拼接,融合等功能,并可以連接多媒體、打印、等多種輸出方式。)
02 CCD數字攝像頭 140萬、200萬、500萬(具有單張、定時采集圖像、錄像、顯示比例尺、測量、圖像拼接,融合等功能,并可以連接多媒體、打印、等多種輸出方式。)
03 高清模擬攝像頭 日本JVC、松下及國產品牌580線(具有單張、定時采集圖像,錄像,疊加比例尺、測量、連接多媒體,打印輸出等功能)
04 單反數碼相機 佳能、尼康、萊卡等以上像素單反相機(具有拍照、錄像等功能)

三、分析軟件選購:

序號 名稱 參數及功能
01 基本測量軟件UV 可單張、定時、連續采集;可顯示標尺、放大倍數;可對顯微圖像進行長度、角度、半徑、周長、面積等多種測量;可以連接多媒體、打印、等多種方式輸出。
02 金相分析軟件UV-MA 包含多達400項左右符合GB、YB、JB、ASTM等標準自動評級項目,具有對金相圖像進行自動評級、圖譜比對、定標測量、定倍打印、查看圖譜、輸出報表和圖像融合等多種功能。
03 礦相分析軟件UV-K 通過對顯微圖像的優化著色處理及測量來對礦相進行定量分析。可單張、連續采集;可顯示標尺;可對顯微圖像進行長度、角度、半徑、周長、面積等多種測量;可以連接多媒體、打印、等多種方式輸出。
04 粒度軟件UV-G 包含所有基本測量功能,提取并計算不同顏色圖像所占面積比例,可對視場內顆粒自動測量分析,并可按顆粒的粒徑、面積、形狀等多類參數以線性或非線性統計方式輸出分布圖和積分分布圖,也可以得出D10、D50、D90等常用統計數據。可以連接多媒體、打印、等多種方式輸出。
序號 名稱 主要技術參數 單位 數量
01 顯微鏡機架   1
02 三目鏡筒   1
03 無限遠明暗場物鏡 5X、10X、20X、40X、80X 各1
04 平場目鏡 10X 1
05 暗場落射照明器   1
06 內六角   1
07 濾色片 藍、綠、黃、磨砂 各1
08 攝像接口   1
09 鹵鎢燈 12V/50W 1
10 防塵罩   1
11 電源線   1
12 產品說明書   1
13 產品裝箱單   1
14 產品合格證   1
15 產品保修卡   1


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