應用導向 - 豐富的KitStart測試組件適用于多種的測試要求。
模塊化設計 - 多種模塊化配件可供選擇，允許用戶根據應用需求無縫升級探針臺系統 。
高性價比 - 用戶可根據需求配置的高性價比探針臺系統。
的X-Y機構 - 精密的微分頭定位器加平臺空氣軸承底座，可速調整并精確定位。
IPS探針臺為KeyFactor公司研發的高性能探針臺系統，可滿足低噪聲/干擾的測試需求。使用IPS探針臺系統以及合適的配件，用戶可輕松松進行漏電于小于5fA，寄生電容小于10fF的測試測量應用。
微弱漏電測試的主要配件為FemtoProbe或CPA-10同軸探針。該產品設計有同軸屏蔽層，可限度的包裹測試信號，減少漏電和周圍電場的干擾。除此之外，我們還提供高性能的屏蔽箱，可保護測試系統在微弱漏電測試時不受靜電聲及交流電場的干擾。
如果您項目啟動時僅需滿足基礎的I-V、C-V測試要求，IPS探針臺也將是您良好的項。模塊化的結構設計，讓IPS探針臺系統或輕松進行升級。用戶僅需選擇相應的升級模塊，并進行簡單的安裝即可。設備無須退回原廠進行修改，用戶不用因為升級而停止現有的實驗。
常用的基礎I-V/C-V配置，通常包含了IPS-AS-Stereo探針臺、S10系列探針夾具以及DTP100/DCP100定位器等配置。
IPS探針臺為多應用平臺，不僅僅可實現I-V/C-V測試。選擇不同的配件，用戶也可將系統設置為滿足微測測試應用的探針臺系統。
基礎的微波測試系統包含了1套IPS-AS-Stereo探針臺（包含兩個校準樣品臺），2套DCP100定位器，2套RFH100微波測試探針夾具，2套微波測試探針及組件（探針為定制產品）等等。
由于微波測試探針價格較貴，為了更好地保護和使用探針，我們為該系統研發和高剛性的機械結構。同時，DCP100等定位器，使用了振動隔離式操作設計，有效地減少操作振動、提升了探針與樣品的對準精度和效率。
為了保障測試安裝，IPS探針臺高功率配置配套帶有Interlock的EMIShiled屏蔽箱或安全光幕。這些配置可保障用戶的使用安全，避免發生觸電等人身傷害。我們還研發設計了防電弧結構，消除高壓測試電弧。
IPS-HP的基礎配置，可應用于高達3kV高壓和40A大電流的測試應用當中。若您需要5kV等更高壓的應用，我們也可為您配置相應的測試系統 。
KeyFactor公司研發了多款加熱樣品臺系統，可適用于IPS探針臺系統。的配置為RT至200℃的加熱樣品臺，溫度穩定性為0.1℃。我們也提供高至300℃或800℃的定制型加熱系統。
我們的加熱樣品臺系統，通常由三部分組成：可加熱的樣品臺、TemPro溫控系統以及水冷循環系統（可選）。TemPro溫控控器配套了專用的溫控軟件，您可以通過電腦對樣品臺的溫度進行監視和控制。通過TemPro軟件，您也可實現功率可變的組合測試。
我們的溫控系統為直流24V輸出，可保障用戶的使用安全，防止因設備故障產生觸電等人身傷害。同時，直流電器的使用，可有效地消除樣品臺因使用交流電器而產生的干擾。
除了標準的產品，我們也為用戶提供定制化的服務。KeyFactor可為用戶提供專業的結構設計，定制產品結構以適用于用戶的激光器、光纖或電磁場等配件，以滿足光電器件、納米機器人等的測試測量要求。
若需要讓探針臺系統獲得超低漏電的測試環境，最關鍵的一步是須要讓探針臺與量測的儀表“合為一體”。即探針臺不會因其主要為金屬件構造的特點，接收過多的靜電場和交流電場的干擾。這意味著我們在結構設計上，需要對壓差、屏蔽以及接地上都需要有完善的解決方案。以上任意一點出現問題，探針臺都將接收到高于目標值的干擾。有鑒于此，用戶自行搭建的系統，通常常都很難達到微弱漏電的測試要求。
KeyFactor研發的三同軸樣品臺，為用戶省去復雜的配置工作，用戶僅須將測試電纜連接到樣品臺即可進行超低漏電的測試。
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