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紅外熱相儀設(shè)備

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市納科電子有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào)
  • 所在地 深圳市
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2024/12/9 16:20:06
  • 訪問(wèn)次數(shù) 40

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QFI是業(yè)界名的紅外熱相儀制造商之一

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QFI 是業(yè)界名的紅外熱相儀制造商之一。其原理是通過(guò)接收被測(cè)樣品的紅外輻射，修正輻射系數(shù)，測(cè)出樣品表面的溫度分布，從而得到電子元器件和電路的熱失效分析。主要應(yīng)用于：集成電路元器件失效分析、無(wú)損失效分析、細(xì)微缺陷探測(cè)；

InfeaScope III特點(diǎn)：
1. 高分辨率，空間分辨率達(dá)0.8µm
2. 高靈敏度探測(cè)頭，靈敏度可達(dá)0.1℃
3. 全自動(dòng)紅外附上修正；對(duì)比度層次分明，數(shù)字變焦，具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
4. 可與其它儀器配合使用，如探針臺(tái)



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