GE X射線檢測系統
GE檢測控制技術 phoenix x|aminer高功率x射線檢測系統，可簡便地用于半導體封裝和線路板組裝等電子行業領域.
GE X射線檢測系統
GE檢測控制技術 phoenix x|aminer高功率x射線檢測系統，可簡便地用于半導體封裝和線路板組裝等電子行業領域.
特點：
• 無使用壽命限制160kV/20W高功率射線管，易于穿透高
吸收性工件
• 可選高對比探測器，以提高實時檢測能力
• 設計人性化和操作簡便易用
• 功能全面的CT軟件模塊，簡單快捷
• 可實時CAD數據匹配
• 自動實時導航圖功能，易于對樣品的上下表面和內部進
行快速定位
• 大視窗可方便觀測操控臺
• 激光防碰撞設計以保護工件
• 占地面積小
蘇州和諧電子技術有限公司
：劉
技術規格和配置
幾何放大倍率 | 2100X；配置平板探測器時，>2,000X |
總放大倍率 | >23000X；配置平板探測器時，>7,000X |
細節分辨率 | 可達0.5微米 |
類型 | 開放式微米管、透射管頭、170度輻射角、準直功能 |
zui大管電壓/靶功率 | 160KV/20W |
數字成像鏈（標準配置） | 高分辨率4″雙視野圖像增強器，2M像素高分辨率數字相機 |
數字成像鏈 | 平板探測器 分辨率：75um 像素：1536×864像素 |
操控平臺 | 5軸（X、Y、Z、tilt、rotate） |
總體結構 | 高精度抗震動、同步驅動 |
檢測范圍/工件尺寸/重量 | 410mm×410mm/410mm×410mm/10Kg |
Ovhm-斜三角視圖旋轉 | 可調視角70°，n×360° |
操控 | 操縱桿控制或鼠標（手動模式）和數控編程控制 |
軸速（X-Y-Z） | 10μm/s到80mm/s |
操控輔助功能 | X射線影像導航儀圖，點擊移動功能，，激光定位瞄準 |
phoenix x|act base | 全面的X射線圖像分析軟件 包含測量功能、數控編程功能 |
CT功能選項：3d |av | 3D CT軟件，適用于圖像增強器 |
基本CT軸 | 高機械精度旋轉單元，用于高分辨率要求的CT應用 |
簡易CT軸 | 配有待固定夾具的旋轉單元 |
zui小系統尺寸（W×H×D） | 1800mm×1900mm×1300mm |
zui高可調控制面板 | 400mm |
zui大重量 | 約2050Kg |
XY平臺 | 伍旋轉功能，可增大檢測區域至510mm×510mm |
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