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CPX 低溫真空探針臺

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美國 Lake Shore CPX 低溫真空探針臺可以對器件進行非破壞性的測試,器件的尺寸可達到51mm(2inch)。它可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個測試平臺。一般來講,納米電子材料、量子線、量子點和半導體材料是在CPX在進行測量的比較典型的材料。系統的探針、測試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇,從而滿足不同用戶的需要。

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CPX 低溫真空探針臺產品介紹

美國 Lake Shore CPX 低溫真空探針臺的溫度變化范圍4.2K到475K,加低溫選件后,溫度可降低到1.5K,加入高溫選件,可提供的溫度變化范圍:20K-675K。系統需要使用液氦或液氮實現變溫,防輻射屏大大降低了黑體輻射,提高了制冷效率。冷頭上安裝兩個加熱器,減小了樣品的溫度梯度,加上防輻射屏上的加熱器,整個系統可以實現快速的變溫。


美國 Lake Shore CPX 低溫真空探針臺最多具有6個可以進行微調整的探針臂,每個探針臂上的探針都可以進行3維方向上的定位。專用的探針根據尺寸和材料不同,分為多種類型,探針減少了熱質量,優化了和器件的電接觸性。每個探針都直接和冷頭進行導熱,這樣就減小了探針對樣品的熱傳遞。


為了提高系統的實用性,系統還可以提供1.5K的溫度擴展選件、675K的高溫選件、高真空、Load Lock選件、振動隔離裝置、LN2杜瓦、高放大倍數的顯微鏡、分子泵組、防輻射屏的溫度控制裝置、探針臂的光纖電纜等選件。

CPX 低溫真空探針臺產品特點


    ● 系統可使用液氮或液氦制冷,基本系統溫度范圍:4.2 K to 475 K

    加入溫度選件,溫度范圍可到1.5 K to 400 K 和 20 K to 675 K

    樣品臺可進行面內±5°旋轉

    測量DC到67GHz

    測試樣品尺寸51mm直徑

    最多可使用6個探針臂

    探針臂傳上安裝溫度感器進行溫度監測

    可提供Load-lock選件

    控溫穩定性:±50mK

    探針臂3軸方向可調節,并可進行面內±5°旋轉

    采用高真空選件,系統真空度可達到10-7 torr

    電纜、屏蔽和Guard保護進一步減少了電噪聲和熱輻射損失

    可提供不同的選件和附件來滿足特定的科研測試需要



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