PCT高壓蒸煮老化試驗箱系列:滿足溫度范圍+105℃~+162.5℃,濕度范圍99%R.H

英文名稱：High Pressure Cooking Testing Chamber

產品別名：PCT加速老化試驗箱，高壓蒸煮試驗箱、高溫高壓高濕試驗箱、PCT、高壓蒸煮測試箱、PCT老化箱、飽和高壓老化箱、飽和高度加速壽命老化箱等可靠性試驗設備。

產品用途：

適用于IC 封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗。

應用領域：

IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品。

產品特點：

1.行業應用的流體仿真設計技術與產品工藝制造技術，產品更節能。

2.內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。

3.全自動補水功能,前置式水位確認。

產品參數：

產品實拍