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Apreo S Hivac

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ThermoScientificApreoSEM具有泛地適用性,可以在最短時間內(nèi)為材料研究人員提供的成像質量

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Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有泛地適用
性,可以在最短時間內(nèi)為材料研究人員提供的成
像質量。
當 Apreo 的電子束打開,形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內(nèi)探測系統(tǒng)
呈現(xiàn):無需繁瑣操作,即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大
倍率下,Apreo 的長工作距離(如 10mm 分析工作距離)也能表現(xiàn)出
杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上,Apreo的
用戶界面也可以高效地引導操作者獲得表征該納米結構的參數(shù)條
件。 Apreo 能在短時間內(nèi)解決錯綜復雜的研究問題,適用于需要多功
能以及多用戶操作的應用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,其創(chuàng)新的末級
透鏡設計,絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡
(Apreo C 和 Apreo S)能夠實現(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號的同時探測和高分辨
率,而 Apreo S 則結合靜電、浸沒式磁場的復合透鏡以進一步提高低電壓下
的分辨率,在 1 kV 加速電壓下的分辨率為 1.0 nm,不需要電子束減速。通過
將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現(xiàn)的信號過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1,其位置緊靠樣品,確保在較短的時間
內(nèi)獲得量的采集信號。與其他背散射探測器不同,這種快速的探測器在
導航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏
感樣品時,探測器的性能尤為突出,即使電流低至幾 pA,它也能提供
清晰的背散射圖像。Apreo S 復合末級透鏡通過能量過濾實現(xiàn)高質量的材料
襯度以及絕緣樣品的無電荷成像,進一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價
值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力,例如定向背散射
探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探
測器都擁有無二的軟件控制分割功能,以便根據(jù)需求選擇價值的樣
品信息
未找到相應參數(shù)組,請于后臺屬性模板中添加

一、電鏡技術參數(shù):

1電子光學

1.1電子槍類型:高分辨肖特基場發(fā)射電子槍

1.2加速電壓:200V-30kV

1.3電子著陸能量:20eV-30keV

*1.4束流大小:1pA-400nA連續(xù)可調(diào),保證能譜高效工作

1.5透鏡(物鏡)幾何結構:60°物鏡幾何結構:支持傾斜較大的樣品(不規(guī)則樣品)

*1.6兼容磁性樣品

1.7光闌:自加熱物鏡光闌

1.8自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸

1.9 減速樣品臺

 

2分辨率

2.1高真空分辨率(STEM掃透模式):0.6nm@30kV 

2.2高真空分辨率(SE二次電子):0.7nm@15kV

2.3高真空分辨率(SE二次電子):0.8nm@1kV(樣品臺減速)

2.4高真空分辨率(SE二次電子):1.0nm@1kV(不開樣品臺減速)

2.5 10mm分析工作距離分辨率:1.0nm@1kV

 

3探測系統(tǒng)

3.1 鏡筒內(nèi)BSE探頭(T1)

3.2 鏡筒內(nèi)SE探頭(T2)

3.3 鏡筒內(nèi)探測器 (T3)

3.4 常規(guī)SE探頭 (ETD)

3.5 紅外CCD(觀察樣品臺高度)

3.6 Nav-Cam智能導航相機

 

4真空系統(tǒng)

4.1泵的組成:1個PVP渦旋泵+1個分子泵+2個離子泵

*4.2抽真空時間:≤ 3.5 分鐘

 

5樣品倉

*5.1樣品倉內(nèi)徑:340mm

5.2接口:總共12個,可接能譜3個(1個35°,2個平行180°)

 

6樣品臺

6.1 五軸對中馬達樣品臺,行程:X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm

*6.2 傾斜Tilt(°):-15 ~ +90,旋轉Rotation(°):360°連續(xù)

6.3 樣品尺寸:可沿 X、 Y 軸旋轉時直徑為 122 mm,樣品高度 距共心點 85mm

6.4 分析工作距離:10mm

*6.5 多功能樣品臺:多用途標準支架,以方式直接安裝到載物臺,最多可支持 18 個標準樣品臺 (Ø12 mm)、3 個預先傾斜的樣品臺、切片樣品和不需要工具來安裝樣品

 

7軟件

7.1圖像輸出分辨率:65000x65000像素,8/16/24位深度BMP、JPG

7.2光柵掃描:駐留時間25ns到25ms/像素

*7.3智能掃描和漂移補償:SmartSCAN(256 幀平均或積分、線積分和平均法、隔行掃描),DCFI(漂移補償幀積分)

7.4控制:手動/自動控制亮度/對比度

7.5掃描方式:正常掃描、縮小光柵、定點、線掃描、掃描旋轉、傾斜校正

*7.6顯示方式和探測器通道數(shù)量:單幅或4幅圖像實時顯示,標準4通道,任意兩個探測器的輸入可混合

7.7配備Map3大視野關聯(lián)軟件

 

二、能譜儀參數(shù):

技術指標

1、(*)能譜探測器:采用CMOS內(nèi)置的Si3N4窗新型SDD探測器窗口,堅固耐用,晶體有效活區(qū)面積30mm2X射線信號透過率比傳統(tǒng)的聚合物材料提高35%以上。

2、(*)Si3N4新型窗口耐高壓大于8個大氣壓, 耐高溫大于650攝氏度,耐酸堿腐蝕,可等離子直接清洗。

3、(*) 脈沖譜儀處理板集成在探測器內(nèi),無需獨立的譜儀箱,能譜儀硬件除了探測器和計算機無需其他部件。

4、分析元素范圍:Be4~Am95

5、(*)能量分辨率(Mn-Ka):優(yōu)于127eV, 嚴格依照ISO15632國際標準測量

6、優(yōu)異的低能端分辨率: Al Lα to Al Kα 峰比率1:1

7、(*) 輸入計數(shù)率 200CPS,輸出計數(shù)率85CPS。

8、在0~200kcps范圍內(nèi)的分辨率穩(wěn)定性:> 90%

9、(*)能量分辨率和死時間實時顯示。

用途:

場發(fā)射掃描電鏡為材料研究和材料表征的設備之一。它利用電子和物質的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內(nèi)部電場或磁場等等。主要用于高分子、聚合物及鋰電池材料的微觀形貌標準及其成分分析。具備樣品表面微觀形貌觀測和表面元素成分點、線、面分析,適合分析泛的樣品范圍,從傳統(tǒng)的金屬材料(包含磁性材料)、斷口和拋光斷面,到鋰電池相關的正負極材料的微區(qū)形貌、成分和相分布分析。

 

工作環(huán)境:

1、電壓:100-240V(-6%,+10%)

2、工作溫度:20±3 ℃

3、 相對濕度:< 80%

4 、震動和磁場需由廠家裝機前測試并給出報告


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