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TEA-800PF 快速溫變試驗箱:半導體器件的溫度測試專家

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快速溫變試驗箱:半導體器件的溫度測試專家在半導體器件的研發階段,可幫助工程師測試新器件在溫度急劇變化下的性能表現,優化設計方案;生產過程中,用于對半導體器件進行批量溫度可靠性篩選,剔除早期失效產品,提高產品良率;質量檢測環節,能驗證半導體器件是否符合相關溫度標準和規范,確保產品在各種復雜溫度環境下正常工作。此外,還可用于半導體材料的研究,分析溫度變化對材料性能的影響。

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快速溫變試驗箱:半導體器件的溫度測試專家

用途

在半導體器件的研發階段,可幫助工程師測試新器件在溫度急劇變化下的性能表現,優化設計方案;生產過程中,用于對半導體器件進行批量溫度可靠性篩選,剔除早期失效產品,提高產品良率;質量檢測環節,能驗證半導體器件是否符合相關溫度標準和規范,確保產品在各種復雜溫度環境下正常工作。此外,還可用于半導體材料的研究,分析溫度變化對材料性能的影響。




快速溫變試驗箱:半導體器件的溫度測試專家

技術參數

  • 溫度范圍:-70℃~+150℃,可覆蓋半導體器件常見的工作溫度和測試溫度范圍。

  • 溫度變化速率:空載時升溫速率≥5℃/min,降溫速率≥5℃/min,能快速模擬溫度驟變環境。

  • 溫度均勻度:≤±2℃,保證箱內各區域溫度一致性,使半導體器件測試結果更準確。

  • 溫度波動度:≤±0.5℃,溫度控制穩定,減少溫度波動對測試結果的干擾。

  • 控溫精度:±1℃,精確控制溫度,滿足半導體器件高精度測試需求。

  • 工作室尺寸:根據不同型號,常見尺寸有(長 × 寬 × 高)500mm×400mm×400mm、800mm×600mm×600mm 等,可容納不同數量和規格的半導體器件。



箱體結構與材質

  • 箱體結構:采用箱式結構,分為工作室、制冷系統、加熱系統、控制系統等部分。工作室位于箱體內部,是放置半導體器件的區域;制冷和加熱系統分布在工作室周圍,實現溫度的升降;控制系統安裝在箱體側面或前面,方便操作和監控。

  • 材質:外殼采用優質冷軋鋼板,表面經過噴塑處理,具有良好的防銹、耐腐蝕性能,且外觀美觀;內膽采用不銹鋼板,耐腐蝕、易清潔,避免對半導體器件造成污染;保溫層采用高性能聚氨酯泡沫塑料,保溫效果好,減少熱量損失,保證箱內溫度穩定。

溫度控制系統
該系統采用 PID 控制算法,結合高精度溫度傳感器和智能控制器,實現對箱內溫度的精準控制。溫度傳感器實時監測箱內溫度,并將數據傳輸給控制器,控制器根據設定溫度和實際溫度的偏差,自動調節加熱和制冷系統的工作狀態,使溫度快速、穩定地達到設定值。同時,系統具有溫度超限保護、制冷系統過載保護等多種安全保護功能,確保設備和半導體器件的安全。此外,還可通過計算機接口與上位機連接,實現遠程監控和數據記錄,方便對測試過程進行管理和分析。



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