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塞貝克系數電阻測試儀的主要功能、測試范圍及測試條件綜合說明
一、主要功能
雙參數同步測試
l 塞貝克系數：采用靜態直流法，測量材料在溫差下的熱電勢（單位：μV/K）。
l 電阻率/電導率：通過四端法測量電阻，計算電導率（單位：S/cm）。
l 數據集成分析：支持同步獲取塞貝克系數和電阻率數據，直接計算熱電優值（ZT值），用于評估材料的熱電轉換效率。
智能軟件系統
l 自動完成信號激勵、數據采集、實時處理及結果輸出，支持曲線比較、一階/二階求導、多重峰分析等功能。
l 支持數據導出至Excel、ASCII格式，兼容樣品溫度多點校正和焓變校正。
二、測試范圍
參數 | 范圍 | 精度/重復性 |
溫度范圍 | RT（室溫）～1500℃ | 閉環溫控（K/S/C型熱電偶） |
塞貝克系數 | 1～2500 μV/K | 準確度±7%，重復性±3% |
電導率 | 0.01～2×10? S/cm | 準確度±5~8%，再現性±3% |
電阻率 | 覆蓋絕緣體到導體全品類材料 | 四端法減少接觸誤差 |
三、測試條件
環境控制
l 氣氛類型：惰性、氧化、還原、真空環境。
l 適用場景：高溫合金在還原氣氛下的穩定性測試、燃料電池催化劑的氧化環境導電性分析等。
l 樣品兼容性
樣品形狀：圓柱形或棱柱形：2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm、圓盤狀（10、 12.7、 25.4 mm）。
l 夾持結構： 三明治夾持設計，探頭距離可調（4/6/8mm），確保接觸穩定性。
l 電極材料： 鎳電極（-100～500℃）、鉑電極（-100～1500℃）。
l 長期穩定性：電源輸出0~1A，支持連續高溫實驗（如1500℃下長周期測試）。
四、典型應用場景
l 熱電材料開發：半導體、方鈷礦等材料的ZT值計算。
l 能源器件研究：鋰電電極電阻率、固態電解質界面特性分析。
l 惡劣環境測試：高溫超導材料在真空/還原氣氛下的電輸運特性。
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