華測儀器的HC-RD-1100測量熱電材料的塞貝克系數與電導率的儀器，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。

測量熱電材料的塞貝克系數與電導率的儀器

測量熱電材料的塞貝克系數與電導率的儀器應用領域

熱電材料開發與性能優化

• 測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值（熱電優值）；

• 評估材料在高溫（如1500℃）或惡劣環境（真空/還原氣氛）下的熱電轉換效率。

能源材料與器件研究

• 鋰離子電池電極材料、固態電解質的電阻率與界面接觸特性分析；

• 燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試。

電子與功能材料表征

• 半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究；

• 高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定。

工業材料質量控制與工藝優化

• 合金、陶瓷、碳材料的熱-電協同性能檢測，指導燒結工藝參數調整；

• 高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況（如真空、惰性氣氛）下的電學行為評估。

科研與標準化測試

• 高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究；

• 依據國際標準（如ASTM E1225）開展材料熱電性能認證測試。

產品參數

產品型號：HC-RD-1100

溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃

測量原理；塞貝克系數：靜態直流法 ； 電阻率：四端法

氣氛：惰性、氧化、還原、真空

樣品支架：三明治結構夾與兩電極之間

樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm

樣品尺寸（圓盤狀）：10、 12.7、 25.4 mm

可調探頭距離：4、 6、 8 mm

塞貝克系數測量范圍：1 ～ 2500μV/K  準確度±7%；重復性±3%

電導率測量范圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm  準確度±5-8%；再現性±3%

電源：0 ～ 1A，具長期穩定性

電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）

熱電偶：K/S/C型