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FORMFACTOR 300mm半/全自動(dòng)探針臺(tái) CM300xi
面議0簡(jiǎn)介：在實(shí)驗(yàn)室里以高度自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)了同類的測(cè)量性能*CM300xi探針臺(tái)可以應(yīng)對(duì)極其復(fù)雜環(huán)境帶來(lái)的測(cè)量挑戰(zhàn)，例如隨著時(shí)間的推移和在多個(gè)溫度下對(duì)小Pad進(jìn)行無(wú)人值守測(cè)試。在EMI屏蔽，不透光和無(wú)濕氣的測(cè)試環(huán)...
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FORMFACTOR 200mm 半/全自動(dòng)探針臺(tái) SUMMIT200
面議0簡(jiǎn)介：200mm探針臺(tái)，以高達(dá)5X的效率收集高精度測(cè)量數(shù)據(jù)新型CascadeSummit200的200mm探針臺(tái)對(duì)于盡可能快地收集單個(gè)或大量晶圓高精度測(cè)量數(shù)據(jù)至關(guān)重要。Summit200為研發(fā)、器件表征...
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CH-8-D 雙面探針臺(tái)
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雙面探針臺(tái)DPW-1200
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高壓探針臺(tái)HPW
面議0簡(jiǎn)介：●Failureanalysis集成電路失效分析●Waferlevelreliability晶圓可靠性認(rèn)證●Devicecharacterization元器件特性量測(cè)●Processmodelin...
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8寸探針臺(tái)PW-800
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