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簡介：FlexSEM1000II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20kV下實現4.0nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此...

簡介：

簡介：核心理念采用優異的成像技術SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。全新設計的電子光學系統和檢測系統，使得裝置可以同時接收二次電子和背散射電子等信號，用戶可以在短時間內獲...

簡介：沿用"SU8200系列"的冷場發射電子槍*2采用電子束在Flashing后出現的高亮度穩定區域作為穩定觀察的區間，使得低加速電壓條件下兼備高分辨觀察和分析的性能(Regulus8240/8230/...

簡介：測量表面形貌的新標準隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結構的微細化，人們開始要求比傳統的普通SPM（掃描探針顯微鏡）、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干...

簡介：讀數顯微鏡JC-10一、用途JC-10是種袖珍型便攜式的顯微測量儀器

簡介：讀數顯微鏡JC4-10一、用途JC4-10是種袖珍型便攜式的顯微測量儀器

簡介：SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。光學導航、完善...

簡介：SEM4000Pro是一款分析型熱場發射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍。三級磁透鏡設計，束流可達200nA，在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優勢。標配低真空模式...

簡介：產品簡介：在同步輻射實驗室內實現能量可調的超高分辨率三維成像蔡司XradiaSynchrotron解決方案將納米級X射線成像技術引入到同步輻射實驗室中，讓耗時且耗費財力的自主研發成為過去。專屬的X...