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簡介：【產(chǎn)品概述】ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化，拓展了掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

簡介：DimensionIcon原子力顯微鏡、性能優(yōu)異的大樣品臺AFMBrukerDimensionIcon原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗，具有高水平的性能、功能和配件...

簡介：MultiMode8-HR原子力顯微鏡、擴展性的高分辨AFMMultimode8-HRMultiMode測試平臺作為歷史悠久的經(jīng)典機型，由于其的分辨率與性能享譽至今

簡介：Innova-IRIS原子力-拉曼顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)、完整的TERS系統(tǒng)Innova-IRISInnova-IRIS結(jié)合了業(yè)界性能的AFM和布魯克的針尖增強拉曼光譜（TERS）探頭，能提供一整套完備、...

簡介：DimensionXR原子力顯微鏡納米力學(xué)、納米電學(xué)和納米電化學(xué)研究的解決方案DimensionXR:布魯克的DimensionXR掃描探針顯微鏡（SPM）系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來的研究和技...

簡介：DimensionFastScan原子力顯微鏡、多功能的高速AFMDimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來繁...

簡介：超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8600系列隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過程的時代

簡介：Apreo2SEMThermoScientificApreo2SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載的實時元素成像功能和的自動光學(xué)系統(tǒng)，實現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身

簡介：掃描電子顯微鏡SU3800/SU3900集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結(jié)合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能

簡介：TalosF200XG2TEM適用于高分辨率TEM和STEM表征以及準確化學(xué)定量的TEM顯微鏡