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簡介：透射電子顯微鏡HT7800系列～從生物醫學到材料領域～以創新的操作性，滿足廣泛領域的需求

簡介：掃描探針顯微鏡控制器可以實現掃描探針顯微鏡針尖的自動逼近、樣品掃描、數據收集等功能，低信噪比，具備原子分辨率

簡介：Helios5PFIBDualBeam用于TEM樣品制備（包括3D表征、橫截面成像和微加工）的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡

簡介：低溫超高真空掃描隧道顯微鏡STM（UltrascanLT-100）掃描探針顯微鏡（STM）為代表的超高真空設備廣泛應用于科學研究中，主要進行對表面有關或者在表面發生的所有物理化學現象進行原子尺度的...

簡介：【產品概述】原位掃描電鏡（SEM）基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化，拓展了掃描電鏡的應用領域。

簡介：【產品概述】ZEM15桌面電鏡速度快,信號采集帶寬10M,可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品.只需鼠標就可完成所有操作,不需對中光闌等復雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖.

簡介：SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位，它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操作

簡介：【產品概述】ZEM18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系...

簡介：簡要描述：電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產品概述多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。納米管掃描系統可用于...

簡介：日立熱場發射掃描電鏡SU7000：此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據獲得的信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作...