供應X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD：采用新開發的雙模式分析器，從數秒至數十秒的時間內得到數µm以下的高分辨元素象、化學狀態象，是真正的成象XPS。

供應X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD特點
 空間分辨率小于3μ_m
• 可集成多種分析技術
• 延遲線探測器（DLD）系統
• 平行成像和微區譜圖

供應X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD采用新開發的雙模式分析器，從數秒至數十秒的時間內得到數μm以下的高分辨元素象、化學狀態象，是真正的成象XPS。并且，若在圖像上以鼠標點擊分析位置，則無需移動樣品，便可進行zui小至15μm微小區域的多點譜分析。配備新一代DLD檢測器，可以超快速分析，實現收譜、成象、快拍（Snap Shot）功能。